ملقط LCR رقمي، جهاز اختبار SMD 6 في 1 مع التعرف على المكونات الذكية، شاشة OLED، قابلة لإعادة الشحن، مقاومة 10mΩ-10MΩ، سعة 1pF-20mF، محاثة 1μH-60H، لإصلاح إلكترونيات السيارات
التعرف التلقائي الذكي على المكونات: يحدد تلقائيًا المقاومات والمكثفات والمحاثات، مما يلغي الحاجة إلى تبديل الأوضاع يدويًا لإجراء اختبار سريع بخطوة واحدة لمكونات SMD الشائعة.
6 أوضاع اختبار شاملة: يدعم المقاومة (10mΩ-10MΩ)، والسعة (1pF-20mF)، والحث (1μH-60H)، والصمام الثنائي، والاستمرارية، والوضع التلقائي، مما يغطي جميع احتياجات اختبار المكونات الإلكترونية الأساسية.
شاشة ملونة OLED عالية التباين عالية الدقة: شاشة OLED ذاتية الإضاءة تضمن رؤية بيانات القياس بوضوح حتى في ضوء الشمس الساطع أو ظروف الإضاءة المنخفضة، مع أرقام كبيرة للقراءة السريعة.
نصائح ملقط دقيقة مطلية بالذهب: جهات اتصال مطلية بالذهب ذات أطراف دقيقة تمسك بشكل آمن بمكونات SMD الصغيرة لإجراء اختبار دقيق وفوري، مثالية للأجهزة المثبتة على السطح ومساحات PCB الضيقة.
بطارية ليثيوم قابلة لإعادة الشحن بقدرة 400 مللي أمبير في الساعة: بطارية مدمجة قابلة لإعادة الشحن مع شحن من النوع C توفر ما يصل إلى 12 ساعة من الاستخدام المستمر، مما يلغي الحاجة إلى بطاريات تستخدم لمرة واحدة ويقلل وقت التوقف عن العمل.
دعم اختبار الترددات المتعددة: يوفر ثلاثة ترددات اختبار قابلة للاختيار (100 هرتز، 1 كيلو هرتز، 10 كيلو هرتز) واثنين من فولتات الاختبار (0.3 فولت/0.6 فولت)، مما يسمح لك بمحاكاة ظروف الدائرة المختلفة للحصول على وصف أكثر دقة للمكونات.
إمكانية ترقية البرنامج عبر الإنترنت: قم بالتوصيل عبر Type-C بجهاز كمبيوتر لتحديث البرامج الثابتة للجهاز، مما يضمن تحسينات الأداء على المدى الطويل والتوافق مع احتياجات الاختبار المستقبلية.
دقة قياس عالية (±0.5%): توفر قراءات دقيقة بدقة ±0.5%، إلى جانب قياسات إضافية لـ D (عامل التبديد)، وQ (عامل الجودة)، وRs (مقاومة السلسلة) لتحليل المكونات المتعمق.
تصميم سهل الاستخدام مع ميزات عملية: يتضمن سطوع الإضاءة الخلفية القابل للتعديل، وصفير استمرارية مسموعة، ووظيفة الاحتفاظ بالبيانات، وإيقاف التشغيل التلقائي (5-120 دقيقة) ليناسب بيئات العمل والتفضيلات المختلفة.
هيكل مدمج ومتين: يحمي غطاء ABS المتين من الاستخدام اليومي في ورشة العمل، مع تصميم ملقط مريح للتشغيل المريح بيد واحدة أثناء جلسات الاختبار الطويلة.