المرحلة الخطية اليدوية، طاولة شريحة الميكرومتر المتقاطعة ذات المحور X، محطة منصة التشذيب البصري الدقيقة 60 × 60 مم، للفحص الدقيق، تحديد موضع المعدات

سمات:
1. 100% منتج جديد وعالي الجودة
2. مصنوعة من مادة سبائك الألومنيوم مع سطح بأكسيد أسود، فهي متينة.
3. هذا هو X واحد لمسار انزلاق الدليل الخطي.
4. الآلات الدقيقة والأداء المستقر
5. يستخدم على نطاق واسع في آلات الإنتاج، ومعدات الاختبار، والقياس التجريبي البصري، وضبط الإزاحة، وتحديد المواقع بدقة، والحركة الكمية، وما إلى ذلك.
تخصيص:
الحالة: 100% جديد تمامًا
الموديل: SEMX60-AC
المواد: سبائك الألومنيوم (سطح بأكسيد أسود)
حجم الطاولة: 60*60 مللي متر
مقاومة الحمل: 49.0 نيوتن
السكتة الدماغية: ± 6.5 ملم
دقة بطاقة السنتيمتر: 0.01 ملم
التوازي: 30um
التوازي المتحرك: 10um
الاستقامة الحقيقية: 3um
تعديل المسافة المتحركة: رأس تفاضلي للميكرومتر
المسار المنزلق: الدليل الخطي
نوع السكة: نوع الأسطوانة المتقاطعة
الوزن تقريبا. 300 جرام / 10.6 أوقية
الحجم: تقريبا. 119.3*72*24.5 مللي متر/4.7*2.8 * 1.0in
قائمة الحزمة:
1 * المراحل الخطية